Yafeng Wang1, Weiliang Guo1, Qian Yang1

  • 1Institute of Analytical Chemistry, Department of Chemistry , Zhejiang University , Hangzhou 310058 , China.

概括

一种新的电化学发光自我干扰光谱 (ECLIS) 技术精确地测量了光光体和电极表面之间的纳米尺度距离. 这种方法揭示了分子连接器结构和ECL发射层的厚度.