Bus Impedance Matrix
Mismatch Repair
Types of Errors: Detection and Minimization
Detection of Gross Error: The Q Test
Multimachine Stability
Routh-Hurwitz Criterion II
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Updated: Jul 29, 2025

Operation of the Collaborative Composite Manufacturing CCM System
Published on: October 1, 2019
Huihuang Hou1,2, Pengfei Xu3, Zhiping Zhou3,4
1Key Laboratory of Optoelectronic Materials Chemistry and Physics, Fujian Institute of Research on the Structure of Matter, Chinese Academy of Sciences, Fuzhou 350002, China.
使用马赫-泽恩德干扰仪 (MZI) 的基于的光电子计算为更快的人工智能提供了一条道路. 这项研究确定了MZI硬件错误,并提出了一种新的架构,以显著提高改进的光电子系统的计算精度.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: