Jongsu Lee1, Chung Hwan Kim2

  • 1Department of Advanced Components and Materials Engineering, Sunchon National University, 255 Jungang-ro, Suncheon 57922, Republic of Korea.

概括

本研究提出了一种新的算法,用于精确测量印刷图案尺寸和可打印性,这对于电子设备至关重要. 开发的方法有助于建立模式质量评估的国际标准.

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