在现场FTIR光谱扫描可访问的活性站点在缺陷工程UIO-66的扫描
Vera V Butova1,2, Videlina R Zdravkova1, Olga A Burachevskaia2
1Institute of General and Inorganic Chemistry, Bulgarian Academy of Sciences, 1113 Sofia, Bulgaria.
Nanomaterials (Basel, Switzerland)
|May 27, 2023
概括
在UiO-66金属有机框架中使用酸调节酸位的缺陷工程. 里埃变换红外光谱 (FTIR) 揭示了这些位点如何与吸附物相互作用,这对于催化是至关重要的.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 催化剂是一种催化剂.
- 表面化学 表面化学
背景情况:
- UiO-66是一种具有可调节性质的高度稳定的金属有机框架 (MOF).
- 缺陷工程是修改MOF特性的关键策略,包括酸度.
- 了解酸位行为对于UiO-66在吸附和催化中的应用至关重要.
研究的目的:
- 调查使用酸的缺陷工程对UiO-66.6的酸性质的影响.
- 为了描述改性UIO-66样本中的酸位点的性质和可用性.
- 评估FTIR光谱在探测这些酸性位点方面的实用性.
主要方法:
- 用酸作为调节剂合成UiO-66的溶热合成.
- 使用各种技术进行表征,包括FTIR光谱学.
- 通过吸附CO和CD3CN探针分子来评估酸性质.
主要成果:
- 在室温下疏散的样本中存在桥梁μ3-OH组.
- 在250°C的脱氧化过程中,去除了μ3-OH组.
- 没有调节器的合成产生了开放的Zr位点,而含有调节器的样本则具有酸酸和位点.
- 脱氧化产生了新的赤裸Zr位点,与酸相互作用,而不是CO.
结论:
- 在UiO-66.6中,FTIR光谱对于识别和量化酸性位点是有效的.
- 在调制的UiO-66中酸和阻碍了探头分子相互作用.
- 缺陷工程显著影响UiO-66中的酸位的类型和可访问性,影响其性能.
