Uncertainty in Measurement: Reading Instruments
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Updated: Jul 28, 2025

Implementation of a Reference Interferometer for Nanodetection
Published on: April 26, 2014
Atsushi Ishizawa1,2, Tadashi Nishikawa3, Kenichi Hitachi4
1NTT Basic Research Laboratories, Nippon Telegraph and Telephone Corporation, 3-1 Morinosato Wakamiya, Atsugi, Kanagawa, 243-0198, Japan. ishizawa.atsushi@nihon-u.ac.jp.
研究人员开发了一种新方法,以高精度直接测量绝对光学频率 (AOF),消除了对光学参考的需求. 这一突破推动了光学计量技术的发展,并提高了无线通信速度.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: