通过电子辐射在hBN中创建单个空缺位置
Thuy An Bui1, Gregor T Leuthner1, Jacob Madsen1
1University of Vienna, Faculty of Physics, Boltzmanngasse 5, Vienna, 1090, Austria.
Small (Weinheim an der Bergstrasse, Germany)
|June 1, 2023
概括
六角化 (hBN) 的电子辐射显示,在较低的能量下,损伤率显著降低. 这项研究表明了使用电子束在hBN中进行受控单空缺陷工程的潜力.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 纳米技术纳米技术
- 表面科学是一门学科.
背景情况:
- 电子辐射对于传输电子显微镜 (TEM) 和二维材料操纵至关重要.
- 了解六角化 (hBN) 的辐射效应对于其应用至关重要.
研究的目的:
- 用于测量单层hBN.的移位横截面.
- 为了研究hBN在低能量的电子辐射损伤机制.
- 探索hBN.中缺陷工程的潜力.
主要方法:
- 异常校正扫描传输电子显微镜 (STEM).
- 实验在接近超高真空的环境中进行.
- 主光束能量在50到90keV之间.
- 使用电荷受约束密度函数理论的理论建模分子动力学.
主要成果:
- 80keV以下的损坏率明显低于之前报告的 (高达三次数).
- 单个空缺可以通过电子辐射在hBN中创建.
- 原子被射出的频率几乎是原子的两倍,低于80 keV.
- 观察到的低能损伤并不能仅仅通过弹性敲击来解释.
结论:
- 不弹性散射和价值离子化在降低位移值能量方面发挥着作用.
- 在单空水平上对hBN的缺陷工程是可行的,使用电子辐射.
- 对于对缺陷形成的定量预测,还需要进一步的理论改进.
更多相关视频
14:11Quantification of Hydrogen Concentrations in Surface and Interface Layers and Bulk Materials through Depth Profiling with Nuclear Reaction Analysis
Published on: March 29, 2016
26.8K
08:31Sample Preparation and Experimental Design for In Situ Multi-Beam Transmission Electron Microscopy Irradiation Experiments
Published on: June 27, 2022
1.8K
