Michael Stöger-Pollach1, Keanu Zenz2, Felix Ursin2

  • 1University Service Center for Transmission Electron Microscopy (USTEM), Technische Universität Wien, Wiedner Hauptstraße 8-10, 1040 Wien, Austria; Institute of Solid State Physics, Technische Universität Wien, Wiedner Hauptstraße 8-10, 1040 Wien, Austria.

Ultramicroscopy
|June 2, 2023
PubMed
概括

本研究介绍了一种方法来纠正高阶衍射的阴极光发光 (CL) 光谱. 这种技术提高了电子显微镜分析CaO和GaN等材料的光谱精度.