超高分辨率光学连贯性断层扫描用于研究薄的多层制药涂层
Matthias Wolfgang1, Alice Kern2, Shiyu Deng2
1Research Center Pharmaceutical Engineering GmbH, Graz, Austria.
International journal of pharmaceutics
|June 2, 2023
概括
超高分辨率光学一致性断层扫描 (UHR-OCT) 推进了多层涂层的药物成像技术. 这项技术可以在新型药物输送系统中进行详细的缺陷评估和自动厚度评估.
科学领域:
- 制药技术 制药技术 制药技术
- 生物医学成像技术 生物医学成像技术
- 材料科学 材料科学 材料科学
背景情况:
- 光学一致性断层扫描 (OCT) 正在出现用于制药薄膜涂层监测.
- 目前的OCT系统面临着在多颗粒物剂型上薄而多层涂层的局限性.
- 需要取得进展,以高分辨率分析复杂的制药涂层.
研究的目的:
- 引入和评估用于制药成像的超高分辨率OCT (UHR-OCT) 系统.
- 评估UHR-OCT在具有多种涂层结构的多颗粒物剂型上的性能.
- 为了证明涂层厚度和缺陷检测的自动图像分析.
主要方法:
- 开发和应用一个超高分辨率的OCT系统.
- 在三种单层和多层涂层 (5-50微米厚) 的多颗粒剂型上进行测试.
- 使用自动图像分割对涂层缺陷,厚度变化和形态学的定量分析.
主要成果:
- UHR-OCT实现了2.4微米的轴分辨率和3.4微米的侧面分辨率.
- 该系统成功地可视化了薄涂层中的缺陷,厚度变化和形态特征.
- 自动化分析提供了准确的涂层厚度测量,超越了标准OCT的人类专家的能力.
结论:
- UHR-OCT显著提高了制药薄膜涂层的成像能力,特别是复杂的多层结构.
- 该技术使涂层质量和以前无法实现的统一性得到了详细的评估.
- 对UHR-OCT图像的自动评估为制药制造业的质量控制提供了一个强大的方法.
