一种用于计算平面间距离的新方法,以区分EBSD的相似阶段
Fan Peng1,2, Jimei Zhang1,2, Ziwei Liu1,2
1The State Key Lab of High Performance Ceramics and Superfine Microstructure, Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Science, Shanghai, China.
Journal of microscopy
|June 2, 2023
概括
这项研究引入了一种新的电子反射散射衍射 (EBSD) 方法,以准确测量平面间距,改善相位识别. 这种方法提高了格子间距计算的准确性,特别是对于类似的材料,如Al和Si.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 晶体学 晶体学是指结晶学.
- 电子显微镜电子显微镜
背景情况:
- 商业电子反射散射衍射 (EBSD) 系统难以区分具有相似的平面间角的相,如Al和Si,因为依赖于角度匹配.
- 星际间距是一个更可靠的标识符,但在标准的EBSD模式索引中缺乏精度.
研究的目的:
- 开发一种高效,准确的方法来测量使用纠正的相反格子向量 (RLVs) 来进行相位区分的平面间距.
- 提高EBSD中的格子间距计算的准确性,特别是对于具有挑战性的模式.
主要方法:
- 使用图案旋转和灰色梯度识别,自动识别基库奇波段.
- 精确地提取和纠正互换格子向量 (RLVs),以精确确定格子间距.
- 对于像Al和Si这样的材料,基于平面间距匹配的相位区分.
主要成果:
- 在五个基库奇图案中,减少了50.611%的平地间距测量的平均误差.
- 在格子间距计算中获得了1.644%的平均精度.
- 证明能够区分结构的格子间距差异低至3.3%,对模糊或不完整的模式有效.
结论:
- 拟议的方法通过纠正RLVs,显著提高了EBSD中的格子间距计算精度.
- 这种方法为区分相似的晶体相提供了一个新的策略,并且与现有的EBSD系统兼容.
- 该方法增强了EBSD分析具有相似结晶学性质的材料的能力,即使是低质量的图案.
