复杂的双折结构动态的单拍定量极化成像
Baoliang Ge1,2, Qing Zhang1, Rui Zhang3
1Department of Mechanical Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, United States.
ACS photonics
|June 9, 2023
概括
极化剪切干扰显微镜 (PSIM) 能够定量测量双折材料中的分子导向动态. 这种新方法实现了高速成像,克服了动态材料分析的先前局限性.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 生物物理学的生物物理.
背景情况:
- 极化显微镜对于分析双折材料中的分子秩序至关重要.
- 现有的技术在分子定向动态的定量,毫秒级测量方面存在困难.
- 需要先进的成像方法来研究异性质材料的动态变化.
研究的目的:
- 引入极化剪切干扰显微镜 (PSIM) 作为一种新的单射量化极化成像技术.
- 开发一种方法来精确测量复杂的双断层结构中的阻力和方向.
- 能够对分子导向动态进行高速的定量分析.
主要方法:
- PSIM采用了一次性定量偏振成像方法.
- 该方法提取了通过异性质标本传输的光的阻抗和方向角度.
- 通过使用双断裂分辨率目标和牛肌来验证PSIM的性能.
主要成果:
- 在复杂的双断裂材料中,PSIM准确量化了阻抗和方向.
- 演示了动态过程的高速成像,实现每秒506.
- 实现了高达 350 × 350 μm2 的视野,空间分辨率为 ~ 2 μm.
结论:
- PSIM克服了在双折材料中测量分子导向动态的局限性.
- 该技术为复杂结构提供高速的定量成像.
- PSIM已经准备好用于动态材料表征的广泛应用.
