Wen-Li Lv1, Chen Qian1, Cheng-Xin Cao1
1Hefei National Research Center for Physical Sciences at the Microscale, Chinese Academy of Sciences Key Laboratory of Urban Pollutant Conversion, Department of Environmental Science and Engineering, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, China.
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这项研究引入了一种新的显微镜技术,用于在接口上成像纳米级物体,克服背景噪声,以更清晰地检测表面结合的粒子和病毒. 该方法增强了等离子体成像,用于高通量传感和理解纳米尺度属性.
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