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Seongjun Kim1, Byeongjoon Kim2, Jooho Lee2
1School of Integrated Technology, Yonsei University, Incheon, South Korea.
这项研究引入了一种新的自我监督的深度学习方法,用于在稀疏视图计算机断层扫描 (CT) 成像中减少条纹文物. 该技术有效地提高了图像质量,仅使用稀疏视图数据,克服了以前方法的局限性.
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