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Updated: Jul 26, 2025

Quantifying X-Ray Fluorescence Data Using MAPS
Published on: February 17, 2018
Matthew Ozon1, Konstantin Tumashevich1, Nønne L Prisle1
1Center for Atmospheric Research, PO BOX 4500, University of Oulu, Finland.
这项研究引入了一种新方法,用原始光谱数据估计X射线光电子光谱 (XPS) 中的对齐参数. 这一进步允许对XPS进行更准确的定量分析,改善了材料的表征.
科学领域:
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研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: