在不钢和陶支架中,ER,CR:YSGG激光解接对质表面变化的影响 - - 一项实验室研究
Aravindaksha Rao1, P Deenadayalan1, C Deepak1
1Department of Orthodontics and Dentofacial Orthopaedics, SRMKDC and H, Chennai, Tamil Nadu, India.
Journal of orthodontic science
|June 23, 2023
概括
使用Er,Cr:YSGG激光对正义牙科支架的激光解锁可以最大限度地减少质损伤. 这项研究发现,在特定的激光设置下,减少了质微裂和骨折,确保了更好的患者结果.
科学领域:
- 牙科材料科学 牙科材料科学
- 正牙技术正牙技术的使用.
- 激光在牙科中的应用.
背景情况:
- 传统的正统牙科支架脱可能会导致质受损.
- ,Cr:YSGG激光器为支架移除提供了一个潜在的替代方案.
研究的目的:
- 使用Er,Cr:YSGG激光对金属和陶支架的激光解接后评估质表面变化.
- 为了比较不同激光解锁模式的有效性和安全性.
主要方法:
- 90个提取的前被分为金属和陶支架组.
- 牙通过使用Er,Cr:YSGG激光在各种模式下进行了解.
- 扫描电子显微镜 (SEM) 和粘附残留指数 (ARI) 用于分析.
主要成果:
- 在特定的激光解组中观察到高ARI得分和显著的面膜损伤 (微裂,骨折).
- 在优化激光解组 (A2,A3,B2,B3) 中,观察到最小的复合材料残留物和可以忽略的质损伤.
结论:
- ,Cr:YSGG激光解可以提供高质量的正牙护理,治疗后的牙损伤最小.
- 优化的激光参数对于安全有效的支架移除至关重要.
