高精度的总反射X射线光分析用于确定微量元素,使用由氨-过氧化混合物清洗的基板.
Tsugufumi Matsuyama1, Yudai Tanaka1, Yoshihiro Mori2
1Division of Science and Engineering for Materials, Chemistry and Biology Department of Chemistry and Bioengineering, Osaka Metropolitan University, 3-3-138 Sugimoto, Sumiyoshi, Osaka, 558-8585, Japan.
研究人员通过使用全反射X射线光 (TXRF) 改进了微量元素分析,通过创建超基质. 这种方法提高了低Z元素的灵敏度和精度,克服了干燥残留物中的矩阵吸收问题.
科学领域:
- 分析化学 分析化学
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 频谱学是一种光谱学.
背景情况:
- 总反射X射线光 (TXRF) 对于微量元素的确定非常有价值.
- 通常使用疏水基板,形成点型残留物.
- 在测量低Z元素方面存在挑战,因为矩阵吸收在更厚的残留物中.
研究的目的:
- 开发一种薄膜类型的残留方法,以减轻TXRF中的矩阵吸收效应.
- 为了提高低Z元素的分析灵敏度和准确性.
- 调查用于TXRF样品制备的超基质的使用.
主要方法:
- 用氨-过氧化混合物 (APM) 处理玻璃基板,以创建超性表面 (接触角~5°).
- 一个聚四乙烯面具将APM处理区域定义为直径6毫米的区域.
- 在APM处理的 (超性) 和未处理的 (性) 基板上制备干燥残留物以进行比较.
主要成果:
- 用APM处理的超基板显著提高了低Z元素的净强度.
- 在APM处理与疏水基板的Al Kα强度 (净) 的比率为2.29.
- 在APM处理的基板上,元素回收接近100%,而疏水基板显示出显著的偏差 (例如,Al的~32%).
结论:
- 使用APM处理的超基质成功提高了TXRF的分析灵敏度.
- 拟议的方法提高了微量元素量化的准确性,特别是对于低Z元素.
- 这种方法有效地克服了TXRF分析中矩阵吸收的局限性.
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