Cryo-electron Microscopy
Electron Microscope Tomography and Single-particle Reconstruction
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1CEITEC - Central European Institute of Technology, Brno University of Technology, Purkyňova 123, 612 00 Brno, Czechia.
分析有机双层中的分子堆叠顺序对于设备的功能至关重要. 使用低能电子显微镜 (LEEM) 进行暗场 (DF) 成像,现在可以通过检测衍射模式的微妙强度变化来区分不同的堆叠顺序,得到扫描道显微镜 (STM) 的帮助.
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