线TalbotX线

Pouria Zangi1, Katsumasa Ikematsu2, Pascal Meyer1

  • 1Institute of Microstructure Technology, Karlsruhe Institute of Technology, Hermann-von-Helmholtz-Platz 1, 76344, Eggenstein-Leopoldshafen, Germany.

Scientific reports
|June 27, 2023
PubMed
概括

这项研究引入了X射线塔尔博特干涉测量的新型光学设置,增强相位对比成像. 新的配置将差异相位信号加倍,而不会改变干扰仪的长度或格子周期.