基于多个分布式材料移除函数的等离子体图形校正方法
Xiang Wu1,2,3, Bin Fan1,2,3, Qiang Xin1,2,3
1National Key Laboratory of Optical Field Manipulation Science and Technology, Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610209, China.
Micromachines
|June 28, 2023
概括
这项研究引入了一种用于石英子镜的新型等离子体图形校正方法,该方法将并行材料去除与油墨掩饰相结合. 这种技术显著减少了光学元件的图形错误,为制造提供了更快,更可扩展的解决方案.
科学领域:
- 光学和材料科学 材料科学
- 先进的制造工艺 先进的制造工艺
背景情况:
- 石英子镜是需要高精度的关键光学元件.
- 传统的光学元件制造业在有效地实现纳米级准确性方面面临着挑战.
研究的目的:
- 开发和演示用于石英子镜的通用等离子体图形校正方法.
- 分析这种新方法的技术特征.
主要方法:
- 将等离子体平行去除工艺与油墨掩盖层集成在一起,用于精确的材料去除.
- 应用多分布式材料移除函数用于图形校正.
- 代校正过程以收表面图形错误.
主要成果:
- 在七次代后,实现了石英元素的图形误差从~114 nm RMS到~28 nm RMS的趋同.
- 证明加工时间独立于工件孔径,提高效率.
- 在这个应用中首次成功地结合了血去除和墨水掩盖.
结论:
- 开发的等离子体图形校正方法显示了光学元件制造的重大实际潜力.
- 该技术为光学制造链提供了一个新的,高效的阶段工艺.
- 该方法与工件孔径大小的独立性使其成为可扩展的解决方案.
