脉冲束传输电子显微镜和辐射损伤
David J Flannigan1, Elisah J VandenBussche1
1Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, 421 Washington Avenue SE, Minneapolis, MN 55455, USA; Minnesota Institute for Ultrafast Science, University of Minnesota, Minneapolis, MN 55455, USA.
传输电子显微镜 (TEM) 中的脉冲电子束可以显著减少材料表征期间的样本损伤. 本审查强调了支持脉冲光束TEM的证据,作为减轻光束诱导损害的可行方法.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 显微镜的使用方法
- 物理 物理学 物理
背景情况:
- 传输电子显微镜 (TEM) 对于材料表征至关重要.
- 由光束引起的损伤是TEM成像中的一个重大挑战.
- 现有的减轻损害的方法有局限性.
研究的目的:
- 审查TEM中脉冲电子束的应用.
- 评估脉冲光束TEM对减轻样本损伤的有效性.
- 探索脉冲光束TEM的实用性和潜在机制.
主要方法:
- 在TEM中审查已建立的减损技术.
- 介绍脉冲光束TEM概念和仪器仪表.
- 对脉冲光束效应和损害减轻的最新研究进行分析.
主要成果:
- 脉冲电子束提供了一种有希望的方法来减少TEM中波束诱导的损伤.
- 最近的研究为脉冲光束TEM的可行性提供了令人信服的证据.
- 研究了使用临时结构电子束的方法.
结论:
- 脉冲光束TEM是减轻样本损伤的可行策略.
- 需要进一步的研究,以充分理解机制,并优化方法.
- 未来的方向包括解决目前对理解和实际实施的差距.
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