制造理想的冷电磁样品所面临的挑战

Bong-Gyoon Han1, Agustin Avila-Sakar1, Jonathan Remis2

  • 1Lawrence Berkeley National Laboratory, University of California, Berkeley, CA 94720, USA.

概括

电子显微镜 (cryo-EM) 在空气-水接口 (AWI) 面临着挑战. 在网格上固定样本和控制厚度是改善冷EM和冷电子断层扫描 (cryo-ET) 数据质量的关键策略.