X线

Hao Zhou1,2,3, Qi Huang1,2,3, Kai He4

  • 1College of Physics, Sichuan University, Chengdu 610064, People's Republic of China.

概括

一个新的模型准确地预测了超快X射线对半导体折射率的变化,使得像InP这样的材料可以在小于皮秒的时间内进行诊断. 这一进步对于理解热密物质中的动态过程至关重要.

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