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Ziming Shao1, Noah Schnitzer1, Jacob Ruf2

  • 1Department of Materials Science and Engineering, Cornell University, Ithaca, NY 14853.

概括

研究人员开发了一种新的X射线成像技术,以可视化量子材料中的纳米级应变模式. 这种方法在莫特绝缘体中揭示了一个新的纳米质地,这对于理解异国情调的量子现象至关重要.