通过金涂层来减少激光剥离离离子化质谱中的表面充电效应

Salome Gruchola1, Andreas Riedo1,2, Peter Keresztes Schmidt1

  • 1Physics Institute, Space Research and Planetary Sciences, University of Bern Switzerland salome.gruchola@unibe.ch.

概括

表面在五秒钟内充电激光消光电离质谱法 (fs-LIMS) 阻碍了光谱质量. 金涂层有效地防止充电,提高fs-LIMS的灵敏度,可靠性和非导电样品的测量速度.