从TEM标本中去除含有的污染物
1Core Research Facilities, Southern University of Science and Technology, No 1088, XueYuan Rd., Xili, NanShan District, ShenZhen, GuangDong 518055, China.
Ultramicroscopy
|July 7, 2023
概括
污染是电子显微镜的一个常见问题. 这项研究引入了硫六化物 (SF6) 作为有效的除剂,确保无污染物样本用于高质量的成像.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 分析化学 分析化学
- 表面科学是一门学科.
背景情况:
- 高质量的电子显微镜需要无污染物样本.
- 在地球地中丰富的,与碳具有相同的化学特性,并可能导致污染.
- 在电子显微镜中报告了污染,但没有系统地解决.
研究的目的:
- 为了突出传输电子显微镜 (TEM) 样本中含有的污染物的普遍性.
- 提出和验证一种一般解决方案,以去除污染物.
- 为了提高先进分析技术的样品质量.
主要方法:
- 研究作为TEM中的污染源.
- 开发了一种使用硫六化物 (SF6) 作为特定于的清洁剂的方法.
- 分析了SF6处理前后的样本,以评估污染物去除.
主要成果:
- 在TEM标本上证明了污染物的广泛存在.
- SF6有效地去除了碳化合物和含的污染物.
- 在后处理后,大多数标本在没有进一步暴露于电子束的情况下实现了时间不变成像.
结论:
- SF6是一种可行的和有效的剂量,可以从TEM标本中去除污染物.
- 这种方法提高了样品质量,使得更可靠的高分辨率成像和分析成为可能.
- 该技术可能适用于其他表面敏感分析仪器.
