ADC

Seungmin Lee1, Jisu Kwon1, Daejin Park1

  • 1School of Electronic and Electrical Engineering, Kyungpook National University, Daegu 41566, Republic of Korea.

PubMed
概括

这项研究简化了低成本嵌入式设备的粒子计数. 一个新的算法减少了87%的处理时间和58.5%的错误,使单传感器能够准确地复制多传感器粒子计数数据.