LeeAnn M Sager-Smith1, Scott E Smart2, David A Mazziotti1

  • 1Department of Chemistry and The James Franck Institute, The University of Chicago, Chicago, Illinois 60637 United States.

概括

我们引入了一个量子比特凝聚度量来测量量子计算机纠,用于模拟许多电子系统. 这种新的度量准确地对量子设备进行排名,与分子模拟结果保持一致.