Te/使GaN线

Sheng Lin1, Tingjun Lin2, Wenliang Wang2

  • 1School of Materials Science and Engineering, Wuhan University of Technology, Wuhan 430070, China.

PubMed
概括

这项研究引入了一种基于化 (GaN) 的新型光电探测器,增强了 (Te) 电极. Te/GaN 接口显著提高了光探测器的性能,提高了先进光电子设备的响应能力和响应速度.