在CIS中评估微镜头,颜色过器和极化过器,用于空间应用
Clémentine Durnez1, Cédric Virmontois1, Pierre Panuel1
1Centre National D'Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31400 Toulouse, France.
评估了空间环境对CMOS图像传感器 (CIS) 的影响. 尽管存在担忧,光学堆提高了性能,证明了对太空成像任务的稳定性.
科学领域:
- 光电学是指光电子产品.
- 太空科学 太空科学
- 材料科学 材料科学 材料科学
背景情况:
- 在过去的十年中,商用CMOS图像传感器 (CIS) 在量子效率 (QE) 和光谱选择性方面取得了重大进展.
- 在CIS性能上的改进归因于光学堆组件,如微镜头和彩色过器,最初是为地面应用设计的.
- 这些光学堆在恶劣的太空环境中的强度在很大程度上仍然没有特征.
研究的目的:
- 评估太空环境对商业CMOS图像传感器 (CIS) 的影响.
- 评估CIS中先进光学堆对于未来太空成像任务的适用性.
- 为了确定光学堆的性能增长是否超过空间诱导的退化.
主要方法:
- 对广泛的商用CMOS图像传感器 (CIS) 进行了广泛的环境测试.
- 在空间条件下对CIS设备的检测链中的降解分析.
- 来自光学堆的性能提升与来自太空环境的退化之间的比较.
主要成果:
- 通过CIS中的先进光学堆实现的性能提升是相当大的.
- 观察到太空环境诱导的退化,但不如光学堆的性能改善.
- 光学堆组件并不代表空间应用的CIS检测链中的主要降解来源.
结论:
- 在CMOS图像传感器 (CIS) 中的先进光学堆提供了性能优势,超过了太空环境的不利影响.
- 这些光学堆适合用于太空成像任务.
- 光学堆并不是导致空间应用中CIS检测链退化的主要因素.
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