概括
我们开发了一种新的多光谱伪色干涉测量技术,用于散射式扫描近场光学显微镜 (s-SNOM). 这种方法可以同时进行多波长成像,改善纳米级红外吸收分析.
科学领域:
- 纳米光子学 纳米光子学
- 频谱学是一种光谱学.
- 显微镜的使用方法
背景情况:
- 散射式扫描近场光学显微镜 (s-SNOM) 对于纳米级材料的表征至关重要.
- 在s-SNOM中同时进行多波长成像是有限的,阻碍了全面的分析.
- 精确的相位成像对于检测弱红外吸收信号至关重要.
研究的目的:
- 为s-SNOM开发和描述一种新的检测技术,使其能够同时在多个波长上进行近场振幅和相位成像.
- 在商用s-SNOM系统中实施和验证多光谱伪色素 (PSH) 干扰计.
- 为了证明该技术在纠正负相对比 (NPC) 中的实用性,以获得可靠的纳米级红外吸收成像.
主要方法:
- 通过结合红外激光来创建离散光谱的多光谱伪色素 (PSH) 干涉测量的开发.
- 实施单个红外探测器的时间复杂化方案.
- 将多光谱PSH技术集成和验证到商用s-SNOM仪器中.
主要成果:
- 在s-SNOM中成功实施和表征多光谱PSH干扰量.
- 实时纠正负相对比度 (NPC) 的演示,以改善纳米级成像.
- 在纳米级实现了弱红外吸收的可靠成像.
结论:
- 多光谱PSH干扰测量增强了s-SNOM同时进行多波长成像的能力.
- 该技术有可能提高数据吞吐量并减少漂移效应.
- 这一进步为多色s-SNOM成像作为标准模式铺平了道路,特别是在新兴的红外光源中.
