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Updated: Jun 19, 2026

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Single Molecule Fluorescence Microscopy on Planar Supported Bilayers
Published on: October 31, 2015
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一个64k像素的CMOS-DEPFET模块用于在MHz率下运行的软X射线DSSC成像仪
Stefano Maffessanti1, Karsten Hansen2, Stefan Aschauer3
1Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestr. 85, 22607, Hamburg, Germany. stefano.maffessanti@desy.de.
Scientific reports
|July 21, 2023
概括
信号压缩 (DSSC) 的DEPFET传感器探测器使用了新的64k像素模块,用于在欧洲XFEL进行软X射线检测. 这些模块实现了出色的能量分辨率和高率,满足了项目规格.
科学领域:
- 物理 物理学 物理
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 仪器化 仪器化 仪器化
背景情况:
- 欧洲XFEL需要用于软X射线应用的先进探测器.
- 现有的探测器在特定的XFEL束结构的能量分辨率和率方面面临限制.
研究的目的:
- 描述DSSC项目的第一个全格式CMOS-DEPFET阵列的性能.
- 评估64k像素DEPFET模块的功能和特性,用于软X射线检测.
主要方法:
- 64k像素DEPFET模块与136μm六角像素的组装和表征.
- 使用DEPFET技术实现低输入电容和内在信号压缩.
- 集成读出ASIC与偏差取消,塑造波器,9位ADC和数字内存.
主要成果:
- 在1.1-MHz的率下达到15 e−rms的等效噪声电荷,并获得26.8 ADU/keV的增益.
- 在特定的能量和率条件下,获得了13 e−rms的噪声和1000的动态范围.
- 在更高的能量和更低的率下达到4000的最大动态范围.
结论:
- 具有特色的DEPFET模块符合欧洲XFEL的DSSC项目的苛刻规格.
- DEPFET技术可实现出色的能量分辨率和信号压缩,用于软X射线检测.
- 开发的探测器模块适用于先进研究设施的高率X射线测量.
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