在HOPG和基底板上的六角化的电子结构和表面化学

Didrik René Småbråten1,2, Inger-Emma Nylund1, Kenneth Marshall1

  • 1Department of Materials Science and Engineering, NTNU Norwegian University of Science and Technology, NO-7491 Trondheim, Norway.

ACS omega
|July 24, 2023
PubMed
概括

点缺陷显著影响石墨和基板上的六角化 (h-BN) 薄膜. 基板类型决定了电子性能,而像碳这样的缺陷影响了半导体性,这对于材料应用至关重要.