使 Cepstral

Megan E Holtz1,2,3, Elliot Padgett2, Aaron C Johnston-Peck1

  • 1Material Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899, USA.

概括

这项研究引入了一种新的cepstral方法,可以使用扫描纳米束电子衍射 (NBED) 精确测量铁电薄膜中的局部极性排序. 该技术实现了纳米分辨率和皮科米准确度,用于绘制铁电位移的地图.