,Cs2AgBiBr6

Ken Qin1,2, Guan-Hua Dun1,2, Yuan-Yuan Li1,2

  • 1School of Integrated Circuits, Tsinghua University, Beijing 100084, China.

概括

这项研究引入了一种使用聚胺带进行矿后处理的新型直接接触化方法. 这种技术提高了矿的质量,提高了X射线探测器的性能,并实现了更广泛的应用.

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