线,

Antonia Hager1, Lucas Güniat1, Nicholas Morgan1

  • 1Laboratory of Semiconductor Materials, Institute of Materials, École Polytechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland.

Nanotechnology
|July 26, 2023
PubMed
概括

纳米印记光刻法 (NIL) 提供了一种具有成本效益的方法,用于模拟半导体纳米线 (NW). 紫外线NIL对于100nm以下面罩特征的晶圆尺度制造优越,使得基于NW的可扩展设备成为可能.

相关概念视频