Updated: Jul 20, 2025

Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Published on: July 3, 2021
Shaoxuan Yuan1, Zhiwen Zhu1, Jiayi Lu1
1Materials Genome Institute, Shanghai University, Shanghai 200444, China.
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这项研究引入了一种新的计算机视觉方法,用于分析分子扫描道显微镜 (STM) 图像. 开发的深度学习框架自动识别分子和统计分析,提高了表面化学研究的效率.
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