结构梯度的高频超声波光谱在注射成型PEEK中使用聚焦传感器

Jannik Summa1, Moritz Kurkowski2, Christian Jungmann1

  • 1Fraunhofer Institute for Non-Destructive Testing IZFP, 66123 Saarbrücken, Germany.

PubMed
概括

高频超声波谱学 (HF-US) 通过分析晶体结构来绘制聚-- (PEEK) 的机械特性. 这项技术揭示了材料形态如何影响热塑性材料的性能.

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