使CCD

Maxim Grigoriev1, Denis Zolotov2, Anastasia Ingacheva3,4

  • 1Institute of Microelectronics Technology and High Purity Materials RAS, Osipyan Str., 6, 142432 Chernogolovka, Russia.

PubMed
概括

这项研究引入了一种新的X射线光学方案用于光谱断层扫描,使材料混合物的3D成像更快,更准确. 晶体分析仪方法显著减少了实验时间,同时保持了高的重建精度.