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Akio Yoneyama1,2, Kotaro Ishiji3, Atsushi Sakaki4
1Research and Development Group, Hitachi Ltd., 1-280 Higashi-Koigakubo, Kokubunji, 185-8601, Japan. yoneyama@saga-ls.jp.
一种新的3D X射线拓技术 (3D μ-XRT) 允许对内部晶体缺陷进行非破坏性,高分辨率的成像. 该方法以微米准确度可视化像SiC这样的材料中的脱位,从而推进材料分析.
科学领域:
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主要成果:
结论: