线,

Andrew J Winchester1, Travis J Anderson2, Jennifer K Hite2

  • 1Nanoscale Device and Characterization Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, United States.

Ultramicroscopy
|August 7, 2023
PubMed
概括

一个新的基于激光的深紫外线光源增强了实验室光发射电子显微镜 (PEEM). 这一进步为研究材料电子性质提供了更好的图像质量,超越了传统的同步仪要求.