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Anton Kovyakh1, Soham Banerjee2, Chia-Hao Liu2
1Niels Bohr Institute, University of Copenhagen, Universitetsparken 5, DK-2100 Copenhagen, Denmark.
本研究提出了一种使用X射线衍射在薄膜中绘制纳米结构的新方法. 该技术可以为先进的应用程序提供材料性能的详细可视化.
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