在Eragrostis tef (Zucc.) 中检测出伪造物. 使用EDXRF和ComDim-MLR数据聚变的Trotter粉
Patricia Casarin1, Luana Dalagrana Dos Santos1, Franciele Leila Giopato Viell1
1Post-Graduation Program of Food Technology (PPGTA), Federal University of Technology Paraná (UTFPR) - Paraná - Brazil.
Analytica chimica acta
|August 12, 2023
概括
能量分散式X射线光光谱 (EDXRF) 能够有效地检测无质特夫面粉中的改. 这种方法与共同维度分析 (ComDim) 相结合,可以准确量化特夫面粉中的大米和小麦等污染物.
科学领域:
- 食品科学 食品科学 食品科学
- 分析化学 分析化学
- 频谱学是一种光谱学.
背景情况:
- 泰夫是一种无质谷物,因其铁含量而受到重视,使得泰夫面粉容易受到欺诈性改.
- 确保特夫面粉的真实性对消费者至关重要,尤其是患有乳病或铁缺乏症的消费者.
研究的目的:
- 评估能量散射X射线光光谱学 (EDXRF) 在识别和量化特夫面粉中伪造物的有效性.
- 开发一种可靠的分析方法来控制teff粉的真实性.
主要方法:
- 将特夫面粉与大米,全麦,麦和麦面粉混合,使用简单格式设计进行.
- 来自EDXRF的15kV和50kV的光谱使用常见维度分析 (ComDim) 进行了融合.
- 多重线性回归 (MLR) 模型是使用EDXRF-ComDim得分和teff百分比构建的.
主要成果:
- 最优的MLR模型使用了四个常见维度 (CD),具有高预测准确性 (r2预测=0.8534) 和低误差 (RMSEP=0.0564).
- 该模型表现出强度,准确量化造,尽管在不同谷物作物中EDXRF光谱强度的变化.
- 开发的方法成功地识别了与普通谷物谷物杂的特夫面粉.
结论:
- 与ComDim数据融合相结合的EDXRF是一种高效和可靠的技术,用于检测和量化teff面粉中的改.
- 这种分析方法为食品行业的质量控制和监管监督提供了宝贵的工具.
- 该方法确保了特夫面粉的完整性,保护消费者健康和市场公平性.
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