Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Metal-Semiconductor Junctions
Carrier Generation and Recombination
Fermi Level Dynamics
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Qingteng Zhang1, Gang Wan2, Vitalii Starchenko3
1X-Ray Science Division, Argonne National Laboratory, Lemont, IL, 60439, USA.
复杂氧化物中的缺陷动力学是使用X射线光子相关谱学揭示的. 研究人员观察到间歇性氧空位行为,影响先进应用的材料特性.
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