先天性内耳形 (IEMs) 对耳植入器儿童电气唤起的复合作用电位 (ECAP) 反应的影响

Nithreen M Said1,2, Lena S Telmesani3, Laila M Telmesani3

  • 1Audiovestibular Medicine Unit, Otorhinolaryngology Department, Faculty of Medicine, Imam Abdulrahman Bin Faisal University, Dammam, Saudi Arabia. nithreens@yahoo.com.

概括

在大多数接受耳植入的内耳形 (IEM) 的儿童中,电引起的复合作用电位 (ECAP) 反应是可测量的. 严重的形可能会影响ECAP测量,但一些反应与更好的听力结果相关.