3C-SiC MOS,

Emanuela Schilirò1, Patrick Fiorenza1, Raffaella Lo Nigro1

  • 1Consiglio Nazionale delle Ricerche, Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (CNR-IMM), Strada VIII 5, Zona Industriale, 95121 Catania, Italy.

PubMed
概括

在立方碳化 (3C-SiC) 上的 (Al2O3) 门绝缘器可以减少平带电压变化. 与热ALD相比,与等离子增强的原子层沉积 (ALD) 产生了更好的绝缘性能.