同质的桥梁诱导了用于X射线平板探测器的紧且可扩展的矿厚膜
Yingjun Chai1, Chaoyan Jiang2, Xudong Hu1
1MIIT Key Laboratory of Advanced Display Material and Devices, School of Material Science and Engineering, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing, 210094, China.
Small (Weinheim an der Bergstrasse, Germany)
|August 27, 2023
概括
研究人员开发了一种新方法来制造高质量的矿厚膜,用于X射线检测. 这种技术提高了膜的紧性,减少了缺陷,为先进的X射线成像设备铺平了道路.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 固态物理 固态物理
- 光子学 是一个光子学.
背景情况:
- 溶液处理的有机-无机混合矿多晶厚薄膜对X射线检测充满希望.
- 在制备大面积,紧的矿膜方面存在挑战,原因是油墨的限制和针孔.
研究的目的:
- 开发一种直接方法,在没有后处理的情况下制备紧型矿厚薄膜.
- 为了实现基于矿的高性能X射线成像探测器.
主要方法:
- 一种均的桥梁策略,使用稳定的矿泥和弱协调溶剂.
- 在化过程中在现场增长颗粒,以填补针孔并改善薄膜结构.
- 叶片涂层技术用于大面积的薄膜沉积.
主要成果:
- 取得了大面积的矿厚薄膜,具有紧密的粒度排列和超低电流漂移.
- 证明了一种最佳的设备,其移动寿命乘积为2.2 × 10−3 cm2/V.
- 获得了高灵敏度到黑暗的电流密度比为2.23 × 1011 μC Gyair-1 A-1.1.
结论:
- 同质的桥梁策略提供了一条简单有效的途径,以获得高质量的矿厚膜.
- 这种方法适用于直接集成到X射线成像设备.
- 这些发现对于开发基于矿的X射线平板探测器具有教导意义.
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