使用聚焦离子束飞行时间二次离子质谱来深度分析聚合物纳米复合材料中的纳米粒子

Aria C Zhang1,2, Shawn M Maguire1, Jamie T Ford3

  • 1Materials Science and Engineering, University of Pennsylvania, 3231 Walnut Street, Philadelphia, Pennsylvania 19104, USA.

概括

飞行时间二次离子质谱 (ToF-SIMS) 有效地深度分析聚合物纳米复合材料. 优化条件允许精确测量聚合物薄膜中的纳米粒子扩散系数.