在无双矿La NiFeO 薄膜中的多层电阻开关内存
Yongfu Qin1, Yuan Gao1, Fengzhen Lv1
1College of Physical Science and Technology and Guangxi Key Laboratory of Nuclear Physics and Technology, Guangxi Normal University, Yucai Road, Guilin, 541000 China.
Discover nano
|August 29, 2023
概括
无双氧化物薄膜表现出稳定的双极电阻切换行为. 这项研究证明了多层电阻开关特性,在高密度内存应用中具有出色的保留和耐用性.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 固态物理 固态物理
- 设备工程 设备工程
背景情况:
- 电阻开关 (RS) 设备为下一代内存技术提供了潜力.
- 开发稳定高效的RS材料对于实际应用至关重要.
- 无双氧化物是这种设备的有希望的候选者.
研究的目的:
- 在 ITO/玻璃基板上制造密和平面的拉尼菲奥3 (LNFO) 薄膜.
- 研究基于LNFO的设备的双极电阻切换 (BRS) 行为和内存稳定性.
- 探索这些设备中多层电阻开关特性的潜力.
主要方法:
- 用sol-gel方法制造LNFO薄膜.
- 制造Au/LNFO/ITO/玻璃设备结构.
- 双极电阻切换,保留和耐久性质的表征.
- 对电阻开关机制的分析,包括空间电荷有限导电 (SCLC) 和肖特基屏障调制.
主要成果:
- 在100个周期内,LNFO膜表现出稳定的双极电阻切换,并保持了30天的稳定性.
- Au/LNFO/ITO/玻璃装置显示了多级电阻切换,电阻比高达500.
- 在多层状态下,获得了优异的保留 (900秒) 和耐力 (130周期).
- 切换机制归因于氧空位 (OV) 和Au/LNFO接口上的Schottky样屏障的调制.
结论:
- 基于LNFO的设备显示出有希望的内存稳定性和耐久性.
- 在LNFO中观察多层电阻切换为高密度内存开辟了新的途径.
- 氧气空缺和接口屏障调节是这些无矿设备电阻切换行为的关键因素.
更多相关视频
09:49In Situ Transmission Electron Microscopy with Biasing and Fabrication of Asymmetric Crossbars Based on Mixed-Phased a-VOx
Published on: May 13, 2020
4.1K
08:12Low Pressure Vapor-assisted Solution Process for Tunable Band Gap Pinhole-free Methylammonium Lead Halide Perovskite Films
Published on: September 8, 2017
9.6K
