低电阻,高分辨率的W-C电触点是通过直接写入聚焦电子束诱导沉积制造的
Pablo Orús1, Fabian Sigloch1, Soraya Sangiao1,2
1Instituto de Nanociencia y Materiales de Aragon (INMA), Universidad de Zaragoza-CSIC, Zaragoza, 50009, Spain.
Open research Europe
|August 30, 2023
概括
聚焦电子束诱导沉积 (FEBID) 优化了碳纳米线的电气接触. 这种方法为敏感样品提供了针对焦离子束诱导沉积 (FIBID) 的可行替代方案.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 纳米技术纳米技术
- 表面科学是一门学科.
背景情况:
- 聚焦离子束诱导沉积 (FIBID) 是一种常见的纳米光刻技术.
- FIBID的离子束可以通过无形化,削和植入来损害敏感样品.
- 聚焦电子束诱导沉积 (FEBID) 提供了一个替代方案,但通常会产生较低的金属含量.
研究的目的:
- 使用FEBID.优化碳 (W-C) 纳米线沉积.
- 提高金属含量,用于作为电气接触器.
- 评估沉积参数对W-C纳米线属性的影响.
主要方法:
- 聚焦电子束诱导沉积 (FEBID) 用于W-C纳米线制造.
- 沉积参数被系统地改变,以优化纳米线的生长.
- 分析了化学成分和电电阻.
主要成果:
- 优化的FEBID条件产生了W-C纳米线,具有足够的金属含量用于电气接触.
- 达到室温电阻率为550μΩcm,稳定到2K.
- 已经证明FEBID W-C纳米线的横向分辨率为45nm.
结论:
- 优化FEBID是一种适合在对离子束敏感样品上制造电接触的方法.
- 这种技术为FIBID提供了一种有价值的替代方案,其中样本完整性至关重要.
- 开发的W-C纳米线对纳米级应用具有有前途的电气性能.
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