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Il-Kwon Oh1,2,3, Asir Intisar Khan4, Shengjun Qin4
1Department of Chemical Engineering, Stanford University, Stanford, California 94305, United States.
HfO2的区域选择性原子层沉积 (AS-ALD) 改善了电阻随机存储器 (RRAM) 制造. 这种方法通过减少可变性来提高RRAM的可靠性和准确性,为数据存储和神经形态计算的更广泛采用铺平了道路.
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