以低维材料为基础的光电探测器,用于下一代极化检测和成像
Wei Xin1, Weiheng Zhong1, Yujie Shi1
1Key Laboratory of UV-Emitting Materials and Technology, Ministry of Education, Northeast Normal University, Changchun, Jilin, 130024, China.
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
|September 4, 2023
概括
低维材料 (LDM) 正在推进极化光检测. 本综述探讨了LDM如何作为极化敏感元件的功能,增强复杂环境中的探测器应用.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电气工程 电气工程
背景情况:
- 极化光检测依赖于光的矢量特性和转换.
- 低维材料 (LDM) 提供了新的光学和电子性能.
- 将LDM与传统方法集成,为极化光检测带来了新的机遇.
研究的目的:
- 审查极化光检测和成像中LDM的最新进展.
- 强调传统的极化光探测器 (PP) 原理与LDM光响应机制之间的关系.
- 从构成方程的角度重新组织和重新分类现有作品.
主要方法:
- 文献综述和对极化光检测中LDMs现有工作的分析.
- 基于构成方程的研究的重组和重新分类.
- 讨论与偏光相关的LDM中的光响应机制.
主要成果:
- 作为极化敏感元件,LDM显示出显著的潜力.
- 该审查强调了既定PP原则与新型LDM功能之间的相互作用.
- 现有研究被系统地分类,以提供对LDM应用的更清晰理解.
结论:
- LDM对于推进偏振光检测和成像技术至关重要.
- 这项工作提供了该领域的LDM的全面概述,指导未来的研究.
- 未来的方向旨在使用LDM开发"超过摩尔"和"超越摩尔"的设备.
